| 质量光谱仪 |
| JP59059194 1984-3-26 发明申请 |
| 1985-10-14 |
| 目的 : 使四极管-型分析和磁-场-型通过一个由安装装置进行分析以被任意一四极型质量光谱仪和一个磁-场-型两侧上的质量光谱仪中的一个共同的离子源和一个公共的情况下。结构 : 部分3和4用于形成一主离子束被照射在样品1，一种磁-场-型的质量-光谱一部分(M)和四极型质量-光谱部分(Q)安装在一个真空外壳(W)。所述部分(M)和(Q)安装在独立的室，其位于两侧上的所述光束形成部分3和4。光阑在这些室被使用作为二次离子引出电极5和6，还快门7和8被安装，从而构成一个二次离子质谱仪。由所述挡板7和8之间进行切换，这种装置可以用于任何的高-质量速度扫描分析，高-分辨率质谱法，高-分辨率分析用于低质量号码和高的质量号码和软-真空质谱法尽管仅通过该分析可以实现低分辨率。 |
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