| 温度测量装置 |
| JP59001972 1984-1-11 发明申请 |
| 1985-8-1 |
| 目的 : 测量温度，而不管的所述emmissivity和一待测材料的形状，以使它可能的，以执行温度测量具有高的位置分辨率，通过注入positrons为一本体，其温度是以被测得的，和基于所述温度测量在所述positrons湮没所述的γ-射线强度。结构 : positrons是从一种正电子发射源11或通过一个会聚透镜12会聚并输入到一体1，其温度是要测量的。所述positrons命中在所述的电子体，其温度是以被测量，和它们作为对消失。在这个时间，两个γ射线所述反向方向中被发布到每个其它。所述脉冲信号的所述γ射线，其被输入到γ-射线检测器2，被转换成一个数字信号通过一前置放大器4，一种线性放大器5和一个A\/D转换器6。此后该信号被捕获作为一通过一多通道waveheightγ-射线光谱分析仪7。所得到的γ-射线光谱通过该分析仪7是由一个测量和控制计算机8还分析和所得到的γ射线是所述的intesity。该强度是基于一个校准曲线转换成一个温度，它是预先获得的，和该结果被输出作为温度信息。因此该温度可以被测量，而不管的所述emmissivity和所述待测材料的形状。 |
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