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产业专利数据

光谱分析仪

DE3444304 1984-12-5 发明申请

1985-6-20

一种光谱分析仪测量所述一个元件的一个线光谱的强度，而不损害通过所述的信号分量所述的连续背景光，通过该事实的所述最大值和最小值的所述光谱一指定波长区域中被检测到的信号，它包括所述目标元件的波长，和所述之间的差所述最大值和最小值被计算。作为结果，所述背景信号分量的影响被消除。