| 质量光谱仪 |
| JP58217733 1983-11-21 发明申请 |
| 1985-6-18 |
| 目的 : 以进行质谱分析在所述最大灵敏度当所述离子量达到最大电平的电平由计算该行程从所述基准点的发射极作为所述驱动量的一驱动部分和发布所述控制命令时，所述一个位置传感器的检测输出是基于所计算产生的。构造 : 由发射器发射一个发射器2被支持架7安装在电解所述的尖端消除(fd)探针9和所述探针9是所述发射器的插入口侧和发射极之间的移动加热位置的一个电离室1。一探头控制单元11移动所述探头9通过该驱动量，其是指定由所述控制指令从计算机17。作为所述位置传感器检测使它穿过所述参考点指定在所述发射器的插入口侧; 一种led12和一个光电二极管13被提供和该计算机17确定它穿过所述参考点通过所述的元件13的输出和然后测量所述探头9所述的驱动量。另外，当所发射的离子量达到最大，该行程从所述基准点被测量作为所述驱动量。作为结果，质谱法可以在所有时间执行在所述最大灵敏度。 |
微信公众号