| 精度质量光谱仪装置用于质量分析 |
| JP58205094 1983-10-31 发明申请 |
| 1985-5-28 |
| 目的 : 以自动化的小型质量通过提供一种装置用于测量的总离子强度测量，计算装置，用于区分的所述第一阶，第二的微分顺序，等，一种装置，用于引入标准样品以一质谱法测定部及一控制装置，用于启动质量扫描。结构 : 一个气相色谱仪1和一质量光谱仪(电离室3，磁场部分4和电磁领域。5)是通过一个接口2和该精度的质量光谱仪耦合装置被构成的一装置6用于引入标准样品，电极7，用于检测总离子，一种计算机8，一种电子乘法器9用于离子检测和一个用于激励功率源装置10。总离子强度为连续相色谱仪中测得的质量光谱仪3，4，5和第一的所述differentiations和第二顺序与时间被确定。所述标准样品被引入到该电离室3在所述各自的零点和所述质量扫描被完成。该电离室3的污染，因此averted等是和所述的小型质量测量是由可能的。 |
微信公众号