| 样品的发光装置，用于测量各向异性 |
| JP58058432 1983-3-31 发明申请 |
| 1984-10-17 |
| 目的 : 以缩短测量时间和以排除该影响所述的倾斜的时间的不稳定性的装置由同时该偏振分量正交交叉检测该发光从一个样品由两个平行检测器和处理该信号。结构 : 所述的光从一脉冲源1照射到样品2通过一光谱仪8和一偏振器9。所述偏振发光部件平行和垂直于所述激励光的偏振方向被入射到光检测器3，4通过分析器10，11。所述检测到的信号被状的术语中的脉冲的脉冲整形电路12，13和输入到时间电压转换器tac14，15。两个TAC启动该操作的同时通过所述开始脉冲产生电路5，和分别停止该操作使由于该光子检测该脉冲通过所述光电检测器3，4为所述停止脉冲。所述各向异性曲线γ(t)是通过使用所述的直方图从等式获得所述的垂直和水平极化光分量。 |
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