| X射线微量分析仪 |
| JP57176202 1982-10-8 发明申请 |
| 1984-4-14 |
| 目的：通过界面将计数率计的输出作为定性分析光谱的整体显示在一个阴极射线管表面上，迅速掌握分析结果的整体。 构成：X射线8中包含特征X射线和连续X射线，X射线分析所需的特征X射线由X射线分光晶体9分离。 在X射线检测器10将X射线信号转换成电信号之后，计数率计15通过前置放大器11、线性放大器12和脉冲高度分析器13检测瞬时X射线强度变化。 通过接口21在CRT20上绘制X、Y、Z的三维坐标，将来自波长色散型X射线光谱仪(WDX)的信号叠加在该坐标轴的Z轴上，从而可以非常明显地观察光谱图。 由于测量是通过夜间操作或无人值守操作来执行的，所以来自WDX的信号一度累积在存储装置23中。 |
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