| 质量光谱仪 |
| JP57155269 1982-9-8 发明申请 |
| 1984-3-13 |
| 目的 : 通过形成该最佳条件下测量每个样品多阶段FD的延伸线的发射极到被用于领域使用的去离子化的方法和通过独立地控制一用于加热各延伸的线电流。结构 : 所述发射器是由钨构成的线15和16，其被单独地延伸到所述条7。一种微计算机9的输出被输入到多路复用器10和一个所述多路复用器10的输出被施加到所述钨导线15通过一个发射器加热电流保持电路11和一个发射器加热电流产生电路13。此外，它是还施加到所述钨导线16通过一个发射器加热电流保持电路12和一发射器加热电流产生电路14。一待分析样品被施加到所述钨线16，其质量和所述的标准样品是精确已知的是还施加到所述钨线15。该加热电流的增加速率各自的钨导线被预先存储在所述的计算机9。从而，所述发射器被设置在所述电离室和下用于每个样品测量可以完成所述最佳条件。 |
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