| 直接比光度型分光光度计 |
| JP57111978 1982-6-28 发明申请 |
| 1984-1-9 |
| 目的 : 使一个高度精确的测量与高s\/N比防止所述降低所计算的精度在一弱信号区域由一个测量样品的测光信号控制所述的集成时间依赖于所述幅度的一个参考样品测光信号。结构 : 在一参考样品的传输正在发射的光从一光谱仪1，一个采样电路4取出一个放大器3的输出或在一测量样品的传输光被发射的取样电路5不这样。该电路4和5的输出被计数与计数器10和11分别通过一个A\/D转换器6和7，和栅极8和9。然后，该计数器10是一个集成的值与所述设定值C相比，13和根据以一比较输出端(A)，该计数器10和11所述集成的操作被接通或关断，同时一锁存器输出的脉冲(B)和一个复位脉冲(c)从一控制脉冲生成电路15。一个集成该计数器11被分割的12值B通过所述积分值和输出被锁存与一电路16通过该脉冲(b)。 |
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