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电镜和像差测量方法
JP2016018790 2016-2-3 发明申请
2017-8-10
[A]可以测量高精度电镜中的像差。[解决方案]100的电子显微镜,电子源,会聚电子束的电子束EB源产生样品辐照透镜系统,所述透镜系统在照射在样品上扫描的电子束收敛,电子束EB的角度从电子束EB透过不同的样品S的出孔30。多个角度限制节气门和32,有节流阀(30)穿过电子束EB检测部(20),包括。图[图3]
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