| X-射线分析仪 |
| JP56193237 1981-11-30 发明申请 |
| 1983-6-2 |
| 目的 : 以减少干扰所需要的分析通过使该校正时间与一单个X-射线的X-射线光谱仪没有扫描波长。结构 : 一种波高度分析仪4被设置在用于所述上限和ll1lu1用于所述下限制所述窗口中选择的波高度和一个波高度分析仪4‘在用于所述上限lu2一种ll2用于该下限制在所述窗口。这里，该值lu1和ll1是设置两个所述峰值A。所述峰值之前和之后的B是在所述干扰波的长度分布的X-射线和所述值lu2和ll2被设置在一个部分未重叠所述脉冲的峰值A。所述脉冲部分在所述的X-射线所述待测量的波长对应于通过所述窗口脉冲lu1和ll1所述波的高度分析仪4以外的所述罩部。该计数输出一计数器5的IB‘对应于所述罩部的纯给出该高度所述峰B，其中k是恒定的，在所述ib=k的关系。Ib。当所计数的计数器5被置于在Ia，这是所述脉冲的计数Ia和Ib的总和在所述X-射线的波长，以被测量和所述计数该脉冲是由ia=ia-k给定的Ia，Ib。从所述脉冲的计数在一个固定时间，所述所述预定波长的所述X-射线的强度可被测量。 |
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