| 特定的测光系统 |
| JP56043931 1981-3-27 发明申请 |
| 1982-9-30 |
| 目的 : 以执行一稳定的测量，通过使所述监控信号的电平不使低，作为以产生噪声，即使当一个带通是由极其小。结构 : 一给定的监控信号从一个监视器侧的光电倍增管1被输入的所述的分母侧一分电路10通过一个监视器侧放大器3。给定的测量信号从一种测量光电倍增管2被输入的所述分子的侧侧的所述电路10通过一个测量侧放大器4。进一步，所述一个特定操作的结果是记录由记录装置11。在所述一个手，一个狭缝的狭缝激励侧的光谱仪组件20被关闭和通过一个步进电机19的公转打开。一个驱动脉冲16和一个正反向控制信号被发送到一个所述电机的驱动电路1819从一控制电路14。所述脉冲16的数被计数的计数器15和一个继电器12被驱动时，所述值是达到在一指定值，然后，一个电动机侧的前置放大器13增益被改变。因此，该噪声由特定的测光是通过检查所述数据上不存在的条件切换所述增益。预先。 |
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