| twoowavelength分光光度计 |
| JP54059142 1979-5-16 发明申请 |
| 1980-11-25 |
| 目的 : 以提高测量精度由供给光光束中的快速响应从两个分光计，以一样品池在所述相同的时间，通过分离所发射的光束再次由两个分光计为光谱分量和然后通过同时它们通过两个检测器检测。结构 : 光从光源1照射到光谱仪2和8在所述相同的时间和被分离的单色在波长λ的成分1a和λ2a。所述两个波长的撞击样品电池组件3在所述相同的时间，通过单元3发送的部件被用于光谱分光计15和16再次撞击引起的衍射和它们的输出是通过击打检测器17检测到和18。检测λ1a和λ2a的信号，通过前置放大器19和20被放大后，具有光吸收率转换由对数转换器21和22分别和差操作者14之间的差计算和输出所述两个以模拟或数字存储器范围7，使得只有两个波长的吸收率的信号将被记录或存储在存储器范围7。因此，所述测量的快速响应中可提高精度。 |
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