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产业专利数据

质量光谱仪

JP51109789 1976-9-16 发明申请

1978-4-4

目的 : 以进行微小的质量光谱分析，以使该装置通过改变所述的穿透和捕获multifirious使用所述单元使用两个用于反应箱和离子检测器放置在所述中间离子束会聚点。