| 粒子分析仪显微镜 |
| KR1020160009383 2016-1-26 发明申请 |
| 2017-8-3 |
| 本发明涉及微粒分析装置和方法，涉及搜索，摄像机具体地基于颗粒粒径，摄像单元具有用于分析颗粒形状或类似基于颗粒大小的微粒性质，粒子分析装置，用于分析形状等颗粒物的性质和数量的方法的公务下基板。为此，本发明涉及，在该微粒分析装置，分析目标粒子注入毛细管中的样品；高架第一的端部借助于所述样品中；具有激光光源照射所述样品厚度面，所述样品与所述激光光源照射其扒，光散射柱的光通过在根据样品毛细颗粒，颗粒的散射光通过的路径引导相机拍摄的图像的光学系统；本发明的光学系统从特定时间的粒子散射的光的路径引导图像照相机；所述颗粒与所述照相对象的粒子散射的光由特定时间接收到的输入信息视频帧信号处理结果，粒子轨迹运动，分析颗粒性能的计算机与基板。 |
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