| 粒子分析仪显微镜 |
| KR1020160009385 2016-1-26 发明申请 |
| 2017-8-3 |
| 本发明涉及成像颗粒分析装置，涉及搜索，摄像机具体地基于颗粒粒径，摄像单元具有一形状或类似粒子分析基于颗粒大小的微粒性质，成像颗粒的颗粒性能分析装置，用于分析形状等数量的公务下基板。为此，本发明是指，在成像颗粒分析装置，分析目标粒子注入毛细管中的样品；第一升高的一端借助于所述样品中；下部的下光源照射所述试样厚度；根据本发明，所述光源扒，柱下样品的光散射颗粒和在所述样品毛细孔，路径引导的摄像机图像的光学装置的光学系统；本发明的光学系统从特定时间的散射光通过的路径引导图像照相机；所述颗粒与所述拍摄物体散射的光由特定时间接收到的输入信息通过视频帧在计算机统一的信号处理的结果而不使用工具。 |
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