| 双聚焦质量光谱仪 |
| GB6642647 1966-9-23 发明授权 |
| 1968-11-20 |
| 1, 134, 448。质量光谱仪。hitachiLtd。23sept.，1966[30sept.，1965]，专利42647\/66。标题h1d。一种双聚焦质量光谱仪具有所述的静电分析仪6位于后所述磁分析器3和具有一个第一级的狭缝4和一个离子收集器5用于导出一个单聚焦低分辨率质谱指示亚稳态的离子。所述双-导出的聚焦高分辨率质谱是从所述最终的狭缝7和所述离子集电极2。所述的场跨越所述的静电分析仪是扫描当一个导出的输出是从第一级收集器5在这种方式作为以所述离子在一个方向上施加一制动动作相反的方向扫过所述的磁场。到这端，所述的静电扫描电路17是由峰值致动传感器22和触发器电路24和通过一上限制鉴别器23的退启动，其用于复位的两个所述触发器的触发器电路24和所述扫描电路17。 |
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