| 用于原子吸收光谱分析的装置 |
| FR62914760 1962-11-8 发明授权 |
| 1963-10-4 |
| 956，836。 光电吸收分析装置。 Kabushiki Kaisha Hitachi Sesiakusho。 1962年11月8号[1961年11月9号]，42258/62。 航向G1a。 吸收分析装置包括发射适当谱线的光源S1，该谱线不必是窄的，引入测试样品的火焰S2，低色散和低分辨力的单色器M，随后是高色散和高分辨力的干涉光谱仪I。 样品可以在火焰中蒸发，测定感兴趣的元素的共振线波长处的吸光度，并与类似引入的元素的已知浓度的吸光度进行比较，以测定样品中存在的量。 该装置能够精确地测量在任何所需波长处的峰值强度。 该干涉光谱仪可以执行波长扫描，并包括光敏器件D，该光敏器件D的放大后的输出被馈送到记录器R。 |
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