| 涉及方法和装置中的改进或用于颗粒-质量分析 |
| GB5419741 1954-7-6 发明授权 |
| 1956-9-5 |
| 756, 623。质量光谱仪。beckman仪器，Inc。1954年7月6日[sept.8，1963]，专利19741\/54。类39(1)。在质量光谱仪，所述粒子束是通过一个电极的阵列进行交替的或相对脉冲电位的交替序列中的一个特定的质量和以间隔使所述的颗粒被减速到最大程度和通到偏转装置，因而这些颗粒的最小速度是单独偏转到所述集电极。图中。1所述电极被开孔板和在图。2(未示出)，它们在长度和直径是管状的形成和降低下游。它们也可以在所形成的栅格。该离子源11包括一阴极21和阳极24，与接纳室的气体通过一个泄漏25。该离子被加速通过一加速和聚焦部分13包括电极27，28和一个离子透镜29，每个携带的直流和\/或A。C。电位，并进入一decelerations分析仪部分14包括一开孔的线性阵列盘30。可替换的电极30被电互连的一个设定到一合适的A。C。振荡器33，所述其它以地球给出以所述电极交替地相反极性。该振荡器33可以是振幅或频率调制。该A。C。电位，以扫描该颗粒的质量光谱可以被正弦或方波或脉冲; 和根据与所述电位施加所述电极和所述的距离开的一特定质量的离子被多个有效减速比所述其它离子，它被进行的相位在所述减速点。该离子流包括不同的粒子速度进入所述两个偏转板之间的区域40，41在一个角度，以该流，和至少速度的那些具有最大偏转板40上并与适当的电位; 41通板45的正下方为一收集器49中，以产生一信号指示，记录或控制装置35。该说明书中被讨论的理论条件和安全措施。 |
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