一种测序补救的方法
 
CN202210807943.X  2022-7-8  发明申请

2024-1-16
 
  本发明涉及一种测序补救的方法。本发明提供一种测序补救的方法,其包括下述步骤:1)获得包含测序模板链和测序链SEQ1的样品,2)去除所述步骤1获得的样品中的测序链SEQ1,3)以所述测序模板链为模板进行测序步骤获得测序链SEQ2。本发明的方法不需要重新构建文库,也不需要重新制备新的测序芯片,经济性高,芯片的利用率高,环保性好,还可以挽救稀有样本的测序。
 
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