| X射线激光显微镜样品分析系统和方法 |
| US15442670 2017-2-26 发明申请 |
| 2017-6-15 |
| 改进的X射线激光显微镜系统和方法，它结合了从X射线衍射和X射线成像方法获得的信息。 至少一个样品被放置在超冷、超低压真空室中，通常使用被配置为呈现多个样品的样品给药装置。 样品暴露于短时间的相干X射线照射下，通常使用X射线反射镜和针孔准直方法进一步浓缩。 利用硬X射线激光(如自由电子X射线激光)和X射线衍射方法从样品中获得更高分辨率的数据。 可以使用任何硬X射线激光源或软X射线激光源以及使用纳米级蚀刻波带板技术的X射线成像方法从相同样品获得较低分辨率的数据。 在一些实施例中，可以同时获得衍射和成像数据。 来自两个源的数据被组合在一起，以创建样本的更完整表示。 |
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