| 序列和后验矩阵的处理方法、装置和计算设备 |
| CN202311146735.0 2023-9-6 发明申请 |
| 2023-10-13 |
| 本申请涉及纳米孔测序领域，具体涉及用于对表征聚合物的第一向量化表示序列进行处理的方法和装置、对后验矩阵进行处理的处理方法和装置、计算设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。用于对表征聚合物的第一向量化表示序列进行处理的方法包括：将第一向量化表示序列输入第一机器学习模型，得到第一机器学习模型输出的权重向量，权重向量与第一向量化表示序列的长度相同，并且包括多个预测易位值，每个预测易位值指示聚合物相对于纳米孔测序的观测位点在相应时间步移动了多少个聚合物单元；以及将第一向量化表示序列与权重向量进行整合，得到表征聚合物的第二向量化表示序列。 |
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