用于样品的显微镜检查的方法和装置
 
US15327391  2015-7-22  发明申请

2017-6-8
 
  一种用于样品的显微镜检查的方法,包括使样品与具有比样品高的折射率的光学透明介质接触。 产生照明光束并引导照明光束通过聚焦照明光束的照明物镜。 使用设置在检测物镜上的偏转器偏转沿要检查的样品的方向穿过照明物镜的照明光束,使得照明光束撞击光学透明介质和样品之间的边界表面,其中照明光束被全反射以消散地照明样品。 检测由样品发射并穿过检测目标的荧光。
 
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