产业专利数据
 
遮光装置，显微镜观察方法，控制方法和程序
 
JP2015224577  2015-11-17  发明申请
2017-5-25
 
  [问题]本发明保证图像质量的同时，能抑制劣化的遮光装置可操作性。遮光装置(1)[a]，观察位置观察的显微镜样品台(8)上设置S MS，显微镜物镜(4)入射的外部光中的光，位于所述样品台8上设置观测位置，光屏蔽构件(40)具有的调光控制70。图[图1]
 
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