| 用于样品分析中的自动样品再运行的系统和方法 |
| WOIB23054770 2023-5-8 发明申请 |
| 2023-11-16 |
| 一种用于校正样品分析系统中的测量的方法和系统，所述方法包括：在所述样品分析系统的接口处接收第一样品，所述第一样品是样品源的一部分； 测量所述接收的第一样本的第一信号以产生测量的第一信号； 将所测量的第一信号与所述样品分析系统的预期特性进行比较，以确定所测量的第一信号是否有效； 以及当确定所测量的第一信号无效时：对所述样本分析仪和所述样本源中的一个采取一个或多个校正措施； 在所述采样接口处接收第二样本，所述第二样本是所述样本源的另一部分； 以及测量所接收的另一样本的第二信号以产生测量的第二信号。 |
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