| 被检物分析装置、被检物分析方法以及程序 |
| CN202211698203.3 2022-12-28 发明申请 |
| 2023-9-19 |
| 提供一种被检物分析装置、被检物分析方法以及程序，能够减轻利用人工智能算法分析通过测定被检物得到的数据的计算机的负荷。用于分析被检物中的分析物的被检物分析装置(4000)具备：测定单元(400)，包括用于从第1测定试样获取第1光学信号、从第2测定试样获取第2光学信号的光学式检测部；以及分析单元(300)，分析与第1光学信号对应的第1数据及与第2光学信号对应的第2数据。分析单元(300)通过利用人工智能算法处理第1数据的第1分析工作来执行针对第1测定试样的第1测定项目的分析，通过第1分析工作及处理第1数据中的与分析物的特征对应的第1代表值的第2分析工作中的至少一者来执行针对第1测定试样的第2测定项目的分析。 |
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