| 快速对焦的测序成像方法、系统和测序装置 |
| CN202310894328.1 2023-7-19 发明申请 |
| 2023-10-24 |
| 本申请涉及一种测序成像方法、系统和测序装置，方法包括：获取测序芯片各视场的对焦数据，各视场的对焦数据包括各视场连续若干轮碱基延伸循环的最佳焦面数据；根据各视场的对焦数据确定各视场的固定最佳焦面位置；在后续每一轮碱基延伸循环过程中，根据各视场的固定最佳焦面位置对各视场进行成像。本申请发现各视场连续的碱基延伸循环的最佳焦面数据具有较好的重复性，能够用于后续循环过程确定最佳焦面位置，进而减少测序成像的对焦次数，简化测序成像流程，显著提升测序速度。 |
微信公众号