| 光学显微镜和方法用于确定样本的依赖于波长的折射率介质 |
| DE102015119258 2015-11-9 发明申请 |
| 2017-5-11 |
| 通过使用根据本发明的方法，一种依赖于波长的折射率确定被检样品中的使用光镜(100)。光学显微镜用于进行样品测量未知样品介质的折射率。照明光(22)照射到样品中，检测来自样品基质中进行测量。样品测量的焦点位置的照明光的测量和/或检测通过样品测量。数学模型，在该焦点位置(25)的照明和/或检测的基础上表达的光折射率介质的索引，用于确定从样品的样品介质的折射率测量的焦点位置。本发明还涉及一种光学显微镜用于进行所述方法。 |
微信公众号