| 一种超快透射电子显微镜系统及其使用方法 |
| CN201610916333.8 2016-10-20 发明申请 |
| 2017-5-10 |
| 本发明提供一种超快透射电子显微镜系统，所述超快透射电子显微镜系统包括超快激光系统、电子枪、照明系统、成像系统、样品室、探测器和真空设备。所述超快透射电子显微镜系统能细致地测试样品在不同激光参数及环境温度下的超快结构变化过程，包括不同激发波长、脉冲宽度、激光功率、重复频率以及样品温度等，采集到的信号包括衍射、显微图像以及能量损失谱等，通过分析衍射峰位置、强度，图像衬度变化等分析超快结构变化过程。 |
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