用于在样本分析期间跟踪观察位置的系统和方法
 
US18187645  2023-3-21  发明申请

2023-9-28
 
  一种样本分析仪,用于获得第一和第二台架位置数据。 第一台位置数据指示可移动台在第一维度上的第一位置,并且第二台位置数据指示可移动台在第二(垂直)维度上的第二位置。 所述样本分析仪被配置成基于所述第一和第二台位置数据,确定一个或多个观察或成像光学器件相对于所述可移动台的观察位置。 所述样本分析仪被配置成显示容器图,所述容器图包括与所述可移动台相关联的样本容器的视觉表示。 样本分析仪被配置为显示覆盖在容器图上的观察位置标记。 观察位置标记指示一个或多个观察或成像光学器件相对于样品容器的观察位置,如容器图所表示的。
 
仿站