| 用于相位反衬显微镜物镜组件和包括该相衬显微镜 |
| KR1020150143169 2015-10-14 发明申请 |
| 2017-4-24 |
| 本发明涉及一种利用相位差显微镜的长工作距离物镜系统和采样电压信号。一种高依次从物体侧，第第一透镜组(1)，第二透镜组(2)，第二透镜组(3)，4第一透镜组；第二透镜组(5)，相位板，第二透镜组(6)，第第二透镜组7，8以及镜头组被包括在一起。第一透镜组(3)(+)具有屈折力。在这种情况下，第一透镜和3透镜(3)粘接在一起，4)具有一第一透镜。第一侧的物镜(4)的上侧上的透镜(3)钎焊在一起。(-)的负的第第一透镜(3)具有屈折力。(4)具有透镜具有正(+)折射力的第第一透镜(4)。 |
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