| 一种荧光免疫分析仪检测位置校准方法 |
| CN202310697575.2 2023-6-13 发明申请 |
| 2023-9-5 |
| 本申请提供一种荧光免疫分析仪检测位置校准方法，涉及光学检测领域，所述方法包括：当校准条位于荧光免疫分析仪的试剂卡放置通道时，控制荧光免疫分析仪的光学检测模块从初始位置沿校准条的宽度方向移动，同时控制光学检测模块开始持续采集信号；获取光学检测模块在第一预设时间内采集的第一信号；对第一信号进行处理，得到第一数据序列；判断第一数据序列中是否存在波峰位置和/或波谷位置，若是，则根据波峰位置和/或波谷位置，计算出校准条的中间位置；根据中间位置，对试剂卡放置通道的检测位置进行校准。本申请能够在荧光免疫分析仪的维护过程中，特别是多通道的荧光免疫分析仪中，实现检测位置的自动校准。 |
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