| 用于校正像差的显微镜和装置 |
| DE202016008115 2016-7-1 实用新型 |
| 2017-4-6 |
| 装置(1)，显微镜镜检，包括 : 照明光学系统，具有照明透镜(2)照射在样本载体(7)中的样品位于样品区的样品平面(4)(5)经由照明光束路径，所述的照明光轴(A1)的透镜(2)位于一个平面上，所述平面与所述样品(4)的法线，所述样品载体(7)上对齐，一个非零的照明角度(α1)包括，所述的照明发生平面内，一种检测光学部具有探测束路中检测透镜(3)，它的光轴(A2)与邻近的正常样品(4)的非零角度(α2)由检测系统，所述照明透镜(2)设置在这些照明光路中引入校正元件或(2克)和/或包括 : 所述检测镜头(3)设置在所述待导入这些检测光路校正元件或(3)包括，其特征在于 : 在所述样品载体(7)和物镜(2，3)的弯月形透镜(10)的存在，所述照明光路中，所述探测束路中设置；修正像差的弯月形透镜(10)，本实用新型由于通道的辐射来检测和/或辐射用于照明样品的不同介质折光力的产生，是一种照明校正元件和/或(2)检测修正像差校正元件上形成(3)。 |
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