| 相关的显微镜 |
| JP2015229858 2015-11-25 发明申请 |
| 2017-4-6 |
| [问题]一种光学显微镜和电子显微镜观察在同一位置进行高精度相对显微镜。[解决方案]2的显微镜1，组织样本2的相同样品观察时位于67353731211包括第一级和第二级32和第二引出窗的坐标获取坐标窗口382提取的坐标，12第一2第一和第二的样品台坐标的坐标样本库纠正一种基于坐标之间的差值，窗口2后第一提取的坐标，基于修正后的坐标，第第二定位部(2)，(2)从非观看位置，第二提取的坐标位置对应的位置区域中提取窗口1，2，2第二位置移动到观察窗。图[图4] |
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