| 显微镜及显微镜观察方法 |
| WOJP15076086 2015-9-15 发明申请 |
| 2017-3-23 |
| 本发明的目的是精确地检测出样品发出的荧光聚焦(A)，获得清晰的荧光图像。根据本发明的显微镜(1)包括 : 扫描器(7)，用于扫描所述样品的激发光；物镜光学系统(8)聚焦在样品上激发光(A)和收集荧光时产生的样品在各扫描点；光屏蔽构件(11)的一部分透射荧光的收集。检测器(12)，用于检测所述荧光；设定单元(3)，其允许检测器(12)检测每个荧光发射的遮光部件(11)在不同时间在两个所述打开位置之间的位置关系的位置关系在所述光屏蔽构件(11)与所述物镜光学系统的焦点(8)中的试样(A)设定为光学共轭聚焦的位置关系的荧光通过的遮光部件(11)，和一个光学nonconjugate位置关系；以及计算单元(5)，用于根据所述采集的荧光信号之间的差值检测器(12)处在两个不同时间的位置关系。 |
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