| 相分析仪、样品分析仪和分析方法 |
| EP22204564 2022-10-28 发明申请 |
| 2023-5-3 |
| 相位分析器(80)包括：数据获取单元，其获取光谱成像数据，在该光谱成像数据中，样本(S)上的位置与来自样本(S)的信号的光谱相关联; 候选确定单元(804)，其对所述光谱成像数据执行多变量分析以确定所述相位数量的候选； 相位分析部(806)，其针对每个所述候补，制作包含与所述相位的数量对应的多个相位图的相位图组； 以及显示控制部(808)，其使显示部(820)针对每个所述候补显示所述相位图组。 |
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