| 相分析仪、样品分析仪和分析方法 |
| EP22204572 2022-10-28 发明申请 |
| 2023-5-3 |
| 一种相位分析器，包括：数据获取单元(802)，其获取光谱成像数据，在所述光谱成像数据中，样本(S)上的位置与来自样本(S)的信号的光谱相关联; 相位分析单元(806)，其基于所述光谱成像数据进行相位分析； 显示控制部(808)，其将所述相位分析的结果显示在第一画面(2)上； 以及条件接收单元(804)，其接收用于改变用于所述相位分析的条件的操作，当所述条件接收单元(804)已经接收到用于改变所述条件的操作时，所述相位分析单元(806)在所述改变的条件下执行相位分析，所述显示控制单元(808)在第二屏幕(4)上显示在所述改变的条件下执行的相位分析的结果并且当已经执行预定操作时，所述显示控制单元(808)在所述第一屏幕(2)上反映在所述第二屏幕(4)上显示的相位分析的结果。 |
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