| 基于光耦探测器X射线三维显微镜系统参数标定方法 |
| CN201610300241.7 2016-5-7 发明申请 |
| 2017-2-15 |
| 基于光耦探测器X射线三维显微镜系统参数标定方法。本发明涉及X射线CT技术领域，为提供高分辨率显微CT系统, 本发明采取的技术方案是，基于光耦探测器X射线三维显微镜系统参数的标定方法，首先利用标准栅格板进行高分辨率显微CT的光学放大倍数标定，并将探测器像素信息转化到闪烁片位置的像素信息，然后获取特定模体的二维透视图像，通过计算模体透视图像中的相关参数，标定获得系统的相关参数。本发明主要应用于X射线CT设备的设计制造。 |
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