| 纳米孔测序方法及系统 |
| CN202211160641.4 2022-9-22 发明申请 |
| 2023-4-11 |
| 本发明涉及测序技术领域，具体涉及纳米孔测序方法及系统。本发明提供的纳米孔测序方法选择本身测序质量较高的序列进行进一步校正分析，获取更加准确的结果。同时，采用实时增量更新的方法，进行多次校正分析，最终统计多次结果，以获得最为准确信息。这样，兼顾了准确性和分析速度，大幅提高了校正程序的性能。本发明提供的纳米孔测序方法具有高准确性，解决近似物种鉴定准确性问题；校准结果可重复性，解决结果不稳定，受数据量和数据质量影响问题；实现校准结果质量可预测性，解决物种鉴定可信度评估问题；提高校准速度，实现数据的实时校准问题。 |
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