| 样本分析系统及其控制方法 |
| CN202211236926.1 2022-10-10 发明申请 |
| 2023-1-13 |
| 本发明提出了一种样本分析系统及其控制方法，包括样本供给机构、第一样本分析仪和第二样本分析仪，样本供给机构包括第一测定通道和第二测定通道，用于放置样本架的第一加载区和第二加载区，以及位于第一加载区和第一测定通道之间的第一供给通道，位于第二加载区和第二测定通道之间的第二供给通道，且所述第一供给通道和第二供给通道相连通，以用于将来自第一加载区和第二加载区的样本架在所述第一样本分析仪和所述第二样本分析仪之间进行双向传输；其中，第一供给通道与第一测定通道之间分别设置有第一进样缓存区和第一出样缓存区；第二供给通道与第二测定通道之间设置有第二进样缓存区和第二出样缓存区。 |
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