| 样本分析方法、装置、介质、中位机及样本分析仪 |
| CN202211070000.X 2022-9-2 发明申请 |
| 2023-1-3 |
| 本发明实施例公开了一种样本分析方法，应用于样本分析仪的中位机，用于获取计数位的吸样结束信号、第1混匀位的到位信号和第2混匀位的到位信号；根据吸样结束信号判断计数位是否存在样本，根据第1混匀位的到位信号判断第1混匀位是否存在样本，根据第2混匀位的到位信号判断第2混匀位是否存在样本；当计数位不存在样本且第2混匀位存在样本时，根据第2混匀位的到位信号依次获取第1个样本至第N个样本的样本信息；或者，当计数位存在样本且第1混匀位存在样本时，根据计数位上第M个样本的吸样结束信号获取位于第1混匀位的第M+N个样本的样本信息，M为大于0的整数。本发明实施例还公开了一种样本分析装置、介质、中位机及样本分析仪。 |
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