| 具有发光抑制光和进一步光光栅的扫描发光光显微镜 |
| US15180491 2016-6-13 发明申请 |
| 2016-12-15 |
| 一种用于对用发光标记物标记的结构进行空间高分辨率成像的扫描发光光显微镜，包括用于发光抑制光和用于进一步光的光源； 一种光整形和对准装置； 和记录由发光标记发射的发光光的检测器。 该装置通过两个光栅和一个物镜形成发光抑制光的两个交叉线光栅和另外的光的两个交叉线光栅，使得发光抑制光的总强度分布的局部强度最小值在至少两个方向上被限定，并且另外的光的总强度分布的局部强度最大值或局部强度最小值与发光抑制光的局部强度最小值重合。 此外，该装置移动另外的光和发光抑制光的总强度分布以扫描该结构。 |
微信公众号