| 用于基于像素的定序中的信号校正的系统和设备 |
| US17703975 2022-3-24 发明申请 |
| 2022-8-4 |
| 所公开的技术涉及从所测量的强度中确定标签信号，以用于下一代测序中的基本调用。 特别地，在一系列采样事件期间，由指向包括像素区域并保持多个簇的采样表面的传感器阵列中的光传感器收集所测量的强度。 每个光传感器在每个采样事件期间被引导到像素区域之一并测量来自像素区域之一的强度。 该方法包括：基于传感器阵列中的光传感器的背景电平的变化，针对背景强度来调整来自像素区域中的像素的测量强度；以及基于调整后的测量强度来确定源自像素的标签信号的强度。 所述像素。 |
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