| 局部电穿孔的方法使用光学显微镜离子电流的测量和局部电穿孔装置 |
| KR1020150051893 2015-4-13 发明申请 |
| 2016-10-21 |
| 本发明涉及光学显微镜及离子流测量使用的电穿孔的电穿孔的方法和装置，涉及搜索，以及光学显微镜探针样品中确定的位置；通过将电压施加至所述样品号12号探头和将DNA探针；所述1号探头和探头架和所述2号1号2号分别固定探头的探头架，和所述1号探头的所述数量和2从当前施加电流注入装置包括数字号码。公务下电穿孔。另外通过电穿孔的电穿孔装置的方法。在公共事务号码。 |
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