| 扫描探针显微镜测量物体表面的方法模式 |
| RU2015124125 2015-6-22 发明授权 |
| 2016-9-20 |
| 领域 : 测量设备的方法。扫描探针显微镜测量物体表面的方法涉及测量设备可应用于研究的样品的结构，例如医用生物材料和制品。方法包括准备物体9的表面10通过其切割物体的相对移动，沿第三位置9和刀片3带边缘4，位于沿第二坐标Y的探头(13)是物体9的表面10沿第一X坐标，相对进行扫描，探头13和第二中的对象9的平面表面10，Y色坐标和第三位置，测量物体9的表面10被牵伸的地图进行目标物9的表面10。制备在其中的物体9的表面10完成周期性运动物体9的表面10相对于刀片3。效果 : 技术结果由测量的物体表面制备质量的提高，通过减小探针测量，也可用于较高质量的切割面上的凹凸效果的对象到测量process.12Cl，1的双层管 |
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