| 电子显微镜的样品观察和使用其的方法 |
| JP2015038149 2015-2-27 发明申请 |
| 2016-9-5 |
| 所要解决的问题 : 透射型电子显微镜用于样品中也观察到的一般磁性结构的晶体结构。方法 : 物镜系统(5)，所述的物镜(51)和微带的物镜透镜(52)。所述物镜(51)，励磁电流产生的磁场的物镜(51)可施加在样品4上。微带的物镜52，微带的物镜52的励磁电流引起的磁场不施加到样品4上。所述电子显微镜100，电子束，物镜和物镜51沿前进方向提供52)，设置在比有限视场光阑(7)和下游侧，所述物镜系统5中包括的各透镜的励磁电流上还设置有控制装置(120)。所述控制单元(120)，电子束穿过样品4(Crossover)X光源位置的限视场光阑7的图像以形成图像，物镜和物镜(51)控制励磁电流微带的52。选择附图中 : 图。9 |
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