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扫描探针显微镜方法测量局部...电[]

DE102015001713 2015-2-13 发明申请

2016-8-18

本发明涉及一种扫描探针显微镜，以及本地测量的方法[...]。本发明可用于扫描探针显微镜的尖端安装有量子点。由此，可以提高分辨率和灵敏度的测量电[...]。本发明的方法中，确定所施加的电压，所述充电发生的量子点的影响。溶解不再依赖于距离的尖端从根据本发明，以及从所述待测样品的尖端半径。