| 显微镜自动调焦系统由低相干的干涉测量法 |
| WOUS16013228 2016-1-13 发明申请 |
| 2016-8-4 |
| 公开了几种方法使用低相干干涉测量技术来生成用于光学显微镜自动聚焦装置。这些方法允许自动聚焦在薄的结构，其紧贴在反光面折射后等一盖片，和聚焦位置的自动调整进入样品区域，而不会干扰相邻的反射面。所述测量样品诱导的折射材料制成的覆盖偏移进行补偿。本发明提出的这样一种装置，其允许自动交换技术的低相干干涉测量成像目标中的自动聚焦系统，其主要的兴趣组合的TDI(时间延迟积分成像，双光子荧光显微共焦。 |
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