| 该定位单元用于原子力显微镜的光束 |
| JP2016500155 2014-3-31 发明申请 |
| 2016-6-20 |
| 本发明，光学成像和测量探头的振动或弯曲的用于照明的物体如AFM和一些特定使用的特性，探头光热成像时激发，在样品产生的光热成像时，探头光热成像时净化，和，在样品photocheminally，电灯，和光热成像时，诱导的光束和另其不改变只在传统的方法使用的，在顺序，一个或多个不同波长的光束e115为2，原子力显微镜或科学仪器，如样品的探针可以聚焦在光学光光束定位系统。所述光束聚焦，独立地相对于彼此定位。 |
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