| 工作方法，使用扫描探针显微镜，扫描探针显微镜 |
| JP2014231474 2014-11-14 发明申请 |
| 2016-5-26 |
| 目的 : 通过分离探头进行工作和观察。结构 : 顶尖探头12上设置有悬臂(11)，用于观察扫描头10，包括，探针尖端设有悬臂21和包括工作头20，可彼此独立操作，设置在扫描探针显微镜，操作(例如，去除异物)的用于观察扫描头10的工作场地之前被观察物体50，工作的扫描头20的预定的在工作场地中的物体。此外，手术后观察扫描头10的工作是否完成。选择的绘图 : 图。1 |
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